| 測定ﾋﾟﾝ数 | 1ﾋﾟﾝ 〜 30ﾋﾟﾝ | |
| 測定電流 | 10mA 〜 2A | |
| ｽﾄﾛｰｸ速度 | 可変（11段階） | |
| 測定温度範囲 | -40℃ 〜 150℃ | |
| 最大ｽﾄﾛｰｸ回数 | 300万回 | |
| ｽﾄﾛｰｸ刻み間隔 | 10μm | |
| 測定ﾋﾟﾝ | 長さ最大30mm 230V±10％ 50Hz ：3相 30A |
| ■ 特徴 | この試験機は、基板や半導体の試験に利用するプローブピン、ICソケット用プローブの耐久性を自動で試験する装置です。−40℃〜150℃の範囲で、接触抵抗を測定します。ストローク範囲も任意に設定する事が可能です。 |
| ■ 仕様 |
